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试验设备
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光栅投影式表面形貌仪
发布时间:2018-06-27   阅读量:115

光栅投影式表面形貌仪



仪器性能:
主要用来扫描测量岩土体材料的几何形状与外观数据,构建试样的几何表面模型。

主要参数:
单面扫描范围:400×300 /200×150 mm2
单面测量精度:0.03 / 0.02 mm
传感器参数:144万×2 
传感器类型:高精度工业CCD 
平均采样点距:0.25 / 0.14 mm
单面扫描速度:小于10秒 
扫描方式:非接触 
拼接方式:标志点全自动拼接
 

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